Рентгеноструктурен анализ x-ray structural analyses лекторr: ст н. с. Ііст. Росица Николова

Тел. 870 01 61 (вътр. 47), Моб. 0885 099 158

E-mail: rosica.pn@clmc.bas.bg
ст.н.с. ІІст. Борис Шивачев

Boris Shivachev, Senior Research Associate, Dr. (PhD)

Тел. 870 01 61 (вътр. 47)

E-mail: blshivachev@gmail.com
Хорариум:

30 учебни часа лекции и 30учебни часа упражнения

Курсът има за цел да даде основни познания относно рентгеноструктурния анализ. Разгледани са три основни части, касаещи определянето на кристалната структура на нови вещества: симетрия на кристалните структури, рентгенова дифракция, определяне структурата на кристално вещество. Упражненията се провеждат в лабораторията по структурен анализ и времето позволява всеки от курсистите да определи кристалната структура на собствен кристал или вещества, както и да подготви данните за публикуване.

1.1. Периодичност, транслационна симетрия, елементарна клетка, кристални системи

1.2. Елементи на симетрия,

1.3. Точкови групи на симетрия

1.4. Пространствени групи на симетрия, Браве решетки

1.5. Пространствени групи на симетрия, символи, кристалографски таблици

1.6. Основни типове кристални структури
2. Рентгенова дифракция – 10 часа

2.1 Рентгеново лъчение – основни понятия

2.2. Обратно/реципрочно пространство

2.3. Условия за дифракция, уравнение на Laue, уравнение на Bragg, сфера на Еwald

2.4 Структурни фактори на разсейване

2.5 Систематични погасявания и пространствена група на симетрия

3.1. Монокристален и прахов метод

3.2. Дифрактометричен експеримент

3.3 Методи за определяне на кристална структура

3.4 Подготовка на данните за публикация


Л А Б О Р А Т О Р Н И У П Р А Ж Н Е Н И Я

Всички упражнения се провеждат по указания на лектора и имат за цел затвърждаване и практическото приложение на теоретичните основи от лекциите.

1.1. Периодичност, транслационна симетрия, елементарна клетка, кристални системи

1.2. Елементи на симетрия, Точкови групи на симетрия Пространствени групи на симетрия, Браве решетки

1.3. кристалографски таблици

1.4. кристалографски таблици
2. Рентгенова дифракция – 4 часа

2.1 Обратно/реципрочно пространство

2.2. Условия за дифракция, уравнение на Laue, уравнение на Bragg, сфера на Еwald

2.3 Структурни фактори на разсейване

2.4 Систематични погасявания и пространствена група на симетрия
3. Оределяне на кристалната структура – 4х4 = 16 часа

3.1. Подготовка на образци и провеждане на монокристален експеримент

3.2. Представяне на софтуер за определяне, уточняване и описание на кристална структура. Кристалографски бази данни.

3.3 Определяне, уточняване и описание на кристалната структура на ново вещество

3.4 Подготовка на crystal information file (.cif) за публикуване на данните.

Л И Т Е Р А Т У Р А
1. http://escher.epfl.ch/eCrystallography/
2 http://escher.epfl.ch/eCrystallography/
3. http://www.iucr.org/education/pamphlets/22
4. http://ww1.iucr.org/cww-top/edu.index.html
5. http://www.ccp14.ac.uk/
6. http://phillips-lab.biochem.wisc.edu/software.html

 

Изисквания