Paper title
Изтегляне 79.5 Kb.
|
- Навигация на страницата:
- REFERENCES
CONCLUSIONSThere is a wide variety automated methods and tools for testing the electronics products. Their integration into the manufacturing process is a complex task and requires careful technical evaluation of the effectiveness of each of the tests and financial analysis of alternative tests and equipment. The program memory of electronic devices must be tested with specific tests to ensure correct operation. These tests include RAM tests, ROM/FLASH tests, clock tests, and peripheral tests. The routines are made available as source code and can be quickly integrated into existing software. They can be called easy when necessary during the operation. This method will help to reduce the test time for some of the tests and eliminate completely some others depending on the probability of failure during the execution of every test in the test suite, while keeping the quality and production metrics at the same level as in conventional testing. REFERENCES[1] http://www.radio-electronics.com/info/t_and_m/ate/ict-in-circuit-test [2]http://www.corelis.com/education/Boundary_ Scan_Tutorial.htm [3] http://www.radio-electronics.com/info/t_and_m/design-for-testability-dft/basics-guidelines.php [4]http://www.radio-electronics.com/info/t_and_m/ate/developing-testing-automation-strategy.php [5] http://www.teradyne.com/atd/resource/docs/testStation/SMT7060 [6] Application Note 223/3.0 (2008) Self Test Sample Code for Renesas Microcontroller Families, App 223/3.0 (2). Резюме: Статията представя метод за тестване на компютърна памет. Предложеният метод може да намали продължителността и цялостния цикъл за тестване. Тестването на печатни платки и готови електронни изделия е жизнено важно в процеса на производство на електроника. В статията е направен преглед на някои от най-използваните тестове в производството на електроника, тяхната цел и специфика, като са описани най-важните елементи на тест стратегията – структурните и функционалните тестове. Структурните тестове проверяват физическата структура на PCB/PCBA за отворени вериги и късо съединение, качеството на спойките, наличие на компоненти, ориентация и др., докато функционалните тестове валидират устройствата и тяхната работа. Ключови думи: тест, памет, тест-стратегия, структурни тестове, функционални тестове Изтегляне 79.5 Kb. Сподели с приятели:
|